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安柏Applent|AT510X6多路電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、超高掃描速度、采用高性能微處理器控制的多路電阻測(cè)試儀。為您量身定做的多路電阻測(cè)試儀，定制量程，從1μΩ～3MΩ，Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù)，使得多路測(cè)試周期高達(dá)50ms/次，AT510X6 6路電阻測(cè)試儀為您提供每秒鐘高達(dá)120個(gè)器件的測(cè)試。配備Handler接口，將多路測(cè)試結(jié)果同時(shí)輸出給PLC。

安柏Applent|AT510X1電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程、高速度、采用高性能微處理器控制的嵌入式電阻測(cè)試儀。專為工業(yè)控制設(shè)計(jì)的電阻測(cè)試儀，定制量程，從10μΩ～40kΩ，Z大顯示3999數(shù)。受益于安柏*的電阻測(cè)量技術(shù)，使得測(cè)試速度高達(dá)20次/秒。AT510X1 是迄今Z小型的電阻測(cè)試儀，嵌入機(jī)柜安裝，上下極限設(shè)置，具備PLC觸發(fā)接口，PASS/FAIL輸出。

常州安柏│AT518手持直流低電阻測(cè)試儀是一種高精度寬量程，可以測(cè)試10μΩ~20MΩ 的電阻， Z大顯示數(shù)20000數(shù)。測(cè)試速度在15次/秒下，依然可以保證0.05%的精度。它*的電流測(cè)試模式可以適應(yīng)不同要求的測(cè)試。并配備Mini-USB通訊接口，用于遠(yuǎn)程控制和數(shù)據(jù)采集與分析。

AT528手持式交流低電阻測(cè)試儀是一款可使電阻電壓同時(shí)檢測(cè)的儀表，采用高性能32位ARM微處理器控制的全自動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)的微型手持式儀器，在任何場(chǎng)合可長(zhǎng)時(shí)間實(shí)現(xiàn)對(duì)無源元件進(jìn)行精確而便捷的測(cè)量。 儀器可以測(cè)試1mΩ~3.2kΩ 的電阻，0~50V直流電壓，電阻Z大3200顯示位數(shù)，電壓Z大5000顯示位數(shù)。測(cè)試速度在15次/秒下，依然可以保證0.5%的精度，并且讀數(shù)跳動(dòng)控制在3字以下。

● 電阻測(cè)量范圍：0.01mΩ ～ 32Ω。 ● 電壓測(cè)量范圍：1mV～60V。 ● 測(cè)試參數(shù)：交流電阻和直流電壓 ● 電阻基本準(zhǔn)確度：0.5% ● 電壓基本準(zhǔn)確度：0.1%